PCB高低溫老化試驗箱
PCB高低溫老化試驗箱 高低溫老化試驗箱方法 PCB高低溫老化試驗箱是一種用于模擬產(chǎn)品在不同溫度下長期運行的試驗設備。其主要作用是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性，以便于產(chǎn)品設計者對產(chǎn)品進行優(yōu)化和改進。該試驗箱通常由溫度控制系統(tǒng)、加熱裝置、制冷裝置、溫度傳感器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等組成。在測試過程中，將待測的PCB或電子元器件放入試驗箱內(nèi)，通過控制溫度和時間，模擬不同環(huán)境下的長期使用情況，觀察產(chǎn)品在不同溫度下的性能和穩(wěn)定性變化。
通過PCB高低溫老化試驗箱的測試，可以有效評估產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性，為產(chǎn)品設計和制造提供重要參考。 一、設備簡介：
豪恩系列高低溫試驗箱適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學、建材、航天、醫(yī)療…等制品檢測質(zhì)量之用。專門測試各種材料耐熱、耐寒的性能。本機可選擇中文或英文液晶顯示觸控式屏幕畫面，操作簡單，程序編輯容易，人性化設計?？娠@示完整的系統(tǒng)操作狀況相關(guān)數(shù)據(jù)、執(zhí)行及設定程序曲線。運轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況，屏幕即刻自動報警，顯示故障原因及提供排除故障方法。
二、滿足標準：
GB5170、2、3、5、6-2017、GB 2423.1-2001 (IEC68-2-1)、GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)、GB/T 2423.3-2016（IEC68-2-3）、GB/T2423.4-2008(IEC68-2-30)、GJB150.3(ML-STD0-810D)、GJB150.4(MIL-STD-810D)、GJB150.9-2009、GJB4.5-1983、GJB4.6-1983、GJB367.2-1987、GJB360.8-2009、GB/T5170.2-2017、GB/T5170.5-2016、GB10592-2008、GB10586-2006等
三、主要技術(shù)指標：
27升（桌上型）： 300×300×300（mm）
AC 單相 三線 220V 50HZ
HE-GD-27A7 0℃～+150℃
HE-GD-27B7 -20℃～+150℃
HE-GD-27C7 -40℃～+150℃
HE-GD-27D7 -60℃～+150℃
HE-GD-27E7 -70℃～+150℃
HE-GD-27F7 -80℃～+180℃
80升： 400×500×400（mm）
AC 單相 三線 220V 50HZ
HE-GD-80A7 0℃～+150℃
HE-GD-80B7 -20℃～+150℃
HE-GD-80C7 -40℃～+150℃
HE-GD-80D7 -60℃～+150℃
HE-GD-80E7 -70℃～+150℃
HE-GD-80F7 -80℃～+180℃
100升： 500×500×400（mm）
AC 單相 三線 220V 50HZ
HE-GD-100A7 0℃～+150℃
HE-GD-100B7 -20℃～+150℃
HE-GD-100C7 -40℃～+150℃
HE-GD-100D7 -60℃～+150℃
HE-GD-100E7 -70℃～+150℃
HE-GD-100F7 -80℃～+180℃
150升： 500×600×500（mm）
AC 單相 三線 220V 50HZ
HE-GD-150A7 0℃～+150℃
HE-GD-150B7 -20℃～+150℃
HE-GD-150C7 -40℃～+150℃
HE-GD-150D7 -60℃～+150℃
HE-GD-150E7 -70℃～+150℃
HE-GD-150F7 -80℃～+180℃
225升： 500×750×600（mm）
AC 三相 五線 380V 50HZ
HE-GD-225A7 0℃～+150℃
HE-GD-225B7 -20℃～+150℃
HE-GD-225C7 -40℃～+150℃
HE-GD-225D7 -60℃～+150℃
HE-GD-225E7 -70℃～+150℃
HE-GD-225F7 -80℃～+180℃
408升： 800×850×600（mm）
AC 三相 五線 380V 50HZ
HE-GD-408A7 0℃～+150℃
HE-GD-408B7 -20℃～+150℃
HE-GD-408C7 -40℃～+150℃
HE-GD-408D7 -60℃～+150℃
HE-GD-408E7 -70℃～+150℃
HE-GD-408F7 -80℃～+180℃
800升： 1000×1000×800（mm）
AC 三相 五線 380V 50HZ
HE-GD-800A7 0℃～+150℃
HE-GD-800B7 -20℃～+150℃
HE-GD-800C7 -40℃～+150℃
HE-GD-800D7 -60℃～+150℃
HE-GD-800E7 -70℃～+150℃
HE-GD-800F7 -80℃～+180℃
1000升： 1000×1000×1000（mm）
AC 三相 五線 380V 50HZ
HE-GD-1000A7 0℃～+150℃
HE-GD-1000B7 -20℃～+150℃
HE-GD-1000C7 -40℃～+150℃
HE-GD-1000D7 -60℃～+150℃
HE-GD-1000E7 -70℃～+150℃
HE-GD-1000F7 -80℃～+180℃
控制精度： ±0.2℃
均勻度： ≤2.0℃
升溫速率： 平均3℃/min（非線性、空載時；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；
降溫速度： 平均1℃/min（非線性、空載時；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；
內(nèi)箱材質(zhì)： SUS 304鏡面不銹鋼
外箱材質(zhì)： 紗面不銹鋼或冷鋼板烤漆處理
制冷系統(tǒng)： 采用法國泰康/日本三洋/美國谷輪/德國比澤爾/德國博客等一線制冷壓縮機
制冷劑： 環(huán)保冷媒R404A和R23
冷卻方式： 鰭片式冷凝器附散熱蒸發(fā)器（風冷式）
控制系統(tǒng)： 可編程觸摸屏溫濕度控制器（7寸彩色屏）
保護裝置： 無熔絲開關(guān)，壓縮機高壓、過熱、過流保護，超溫保護，風機過載保護，保險絲
標準配置： 置物架2套，觀察窗1個，測試孔1個，腳輪4個，
聯(lián)機軟件： 232或USB接口，贈送聯(lián)機軟件
高低溫老化試驗箱主要是通過模擬產(chǎn)品在不同溫度下的長期使用情況，對產(chǎn)品進行可靠性和穩(wěn)定性測試。下面是高低溫老化試驗箱的方法：1.準備待測的PCB板或電子元器件，根據(jù)產(chǎn)品的使用環(huán)境和要求設置測試溫度，一般可設置高溫和低溫兩種溫度。
2.將待測PCB板或電子元器件放置在高低溫老化試驗箱內(nèi)，注意安排合理的空間，避免不必要的干擾和影響。
3.設置高低溫老化試驗箱的溫度控制系統(tǒng)，根據(jù)測試要求設置溫度范圍、溫度升降速率和溫度穩(wěn)定度等參數(shù)。
4.開始進行高低溫老化試驗，持續(xù)一定時間，一般可根據(jù)產(chǎn)品要求設置測試時間，一般為數(shù)天或數(shù)周。
5.觀察和記錄測試過程中的數(shù)據(jù)和性能參數(shù)，如電阻、電容、電壓、溫度、濕度等指標，以便于后續(xù)的數(shù)據(jù)分析和處理。
6.結(jié)束測試后，將測試數(shù)據(jù)整理和分析，評估產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性，為產(chǎn)品設計和制造提供重要參考。
需要注意的是，在進行高低溫老化試驗時，應嚴格遵守試驗箱的使用說明和安全規(guī)范，確保測試過程的安全和穩(wěn)定。同時，根據(jù)測試要求和實際情況，可以適當調(diào)整試驗參數(shù)和時間，以便于更好地評估產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。
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